OSRAM hat jahrelange Erfahrung in der Untersuchung und Analyse von Materialien. Verschiedenste Analysenmöglichkeiten stehen zur Verfügung für die Materialentwicklung, Materialcharakterisierung, Schadensanalyse oder auch nur Elementbestimmung, wie z.B.:

• Kohlenstoff-, Schwefel-, Sauerstoff-, Sickstoff- und CSB-Bestimmung
• Nasschemische Analytik – Titration und Photometrie
• Elementanalysen: ICP OES, AAS, Röntgenfluoreszenzanalyse
• Quadrupolmassenspektrometrie
• elektronenmikroskopische Untersuchungen: REM, EDX, EBSD
• Pulvercharakterisierung: Korngrößenverteilung, Pressbarkeit, Fließfähigkeit, Restspannungen
• Pulver-Röntgendiffraktometrie zur Strukturbestimmung
• metallographische Schliffanalysen und lichtmikroskopische Untersuchungen
• Charakterisierung von PIM-Granulaten durch Doppelkapillarrheometrie
• mechanische Materialeigenschaften: Zug-, Biege-, Druckbeanspruchung, Mikrohärte
• Drahtcharakterisierungen: Durchmesser, Spaltigkeit, etc.
• thermische Materialeigenschaften: Temperaturleitfähigkeit, thermische Ausdehnung, Wärmekapazität
• thermische Elektronenemission für Metalle
• Spektralphotometrie